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Steinbichler Comet T-Scan V4.2 手持式雷射光測量系統 英文版
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Steinbichler Comet T-Scan V4.2 手持式雷射光測量系統 英文版 -=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-= HoneRiSO Apps -=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-= 軟體名稱: Steinbichler Comet T-Scan V4.2 語系版本: 英文版 光碟片數: 單片裝 保護種類: 破解檔 破解說明: 見最底下 系統支援: Windows 2000/XP 硬體需求: PC 軟體類型: 手持式雷射光測量系統 更新日期: 2004.11.01 軟體發行: Steinbichler(L.ND) 官方網站: http://www.steinbichler.de 中文網站: 無 軟體簡介: (以官方網站為準) -=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-= T-Scan 手持式雷射光測量系統 COMET T-Scan 的特點 - 掃瞄寬度大:掃瞄寬度90毫米,對於較大物體也能保持較快的掃瞄速度; - 即時顯示:在掃瞄過程中,掃瞄結果可以即時顯示在電腦螢幕上,這使得掃瞄操 作變得非常直觀【像刷油漆一下簡單】; - 雷射光等級2:由於採用等級為2的雷射光束,從而不需專門防護,對人體無害; - 可變的點雲密度:由於可以在一根掃瞄雷射光束內調節點密度,使得我們可以自 動獲得高密度的物體輪廓線; - 點與點間飽合度控制:通過對雷射光束內點與點間飽合度的自動控制,使得即使 在測量帶垂直結構的物體時也能獲得較高的精度,因此可避免針對被測物體的準 備工作。 - 通過預先標定好的掃瞄頭獲得絕對3D坐標:無論是雷射光掃瞄頭還是光學跟蹤器 都處於已標定狀態,因此使用者不需要在現場進行繁瑣的標定工作。 - 測量體積大:支援深達3米的測量體積,可以測量較大的物體。 - 測量精度高:在標準測量範圍內測量精度達【0.1-0.2mm】; - 與接觸式測量間的通信:通過接觸式測量確定點坐標,並能快速產生基準坐標系。 COMET T-Scan 掃瞄系統軟體主要有以下特點: - 3-2-1對齊:在將任何點雲移動到坐標系統的過程中遵循的是3-2-1對齊規則; 這而使得操作者能很方便地定義坐標系統,另外也可以實現測量結果與已知物 體資料間的比較; - 計算截麵線和多邊網格:在實際應用中經常需要產生截麵線或三角形網格,由 於已將這些功能整合到COMET T-Scan系統中,使用者無需為了這些功能再另外 找其它昂貴的軟體; - 線性跟蹤:在測量過程中可以自動識別輪廓線,獲得更佳的操作流程; - 資料接口:提供多種通用格式的輸入與輸出功能【如STL、IGES、VDA、ac、 ASCII等】,可以應用於多種軟體【如CATIA、Polyworks、Metris等】; - 通過與CAD模型比較進行品質控制:通過直觀的彩色雲圖顯示,可以將測量結果 與 CAD 模型資料間進行比較以獲得品質控制的結果,該比較結果可以很快地在 測量現場顯示出來,這樣就不需要專門的、昂貴的輔助測量軟體。 - 平面及圓弧擬合功能:通過整合的平面與圓弧擬合功能,能很方便地驗證曲面 及鑽孔等特徵; - 智慧型化過濾器:新的、專門開發出的3D點過濾算法,可以保留曲率變化及物 體的邊界線。 -=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-= 站長安裝測試環境與安裝說明: -=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-= ‧測試環境 Windows XP Service Pack 1 繁體中文專業版、P4-2.0G 中央處理器、 256Mb 記憶體、NTFS 格式 80.0Gb 硬碟。 ‧請詳閱光碟底下中文說明.jpg(install.en.txt)完整中、英文安裝破解說明檔 ‧附一張安裝完成、破解成功 HoneRiSO.jpg 擷圖,保證裝的起來 -=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=-=